エックス線厚さ計（Ｘ線厚さ計）
SX-1100
軟Ｘ線（軟エックス線）を利用した厚さ計（膜厚計）です。 シート・板状の物体の厚さ・密度（坪量）を非接触（軟X線）で測定します。直接厚みを測るのではなく、基準物質との比較によって、厚さ・密度（坪量）を算出します。
一般に、シートの幅方向の厚み分布を測定するのに、スキャナで検出系を搬送して測定します。非接触で厚さを計測する手段としてはレーザー変位計が一般的ですが、レーザー変位計をスキャナに搭載すると、搬送時にレーザー変位計の精度を遙かに下回る精度でしか搬送できないので、結果的に高精度の測定は困難です。
一方、X線厚さ計のように透過減衰によって厚さを見積もる方式では、空気層−サンプル−空気層と透過する間の減衰を測定するのですが、サンプルによる減衰が空気より遙かに大きく、搬送の影響は空気層の厚み変化として現れるのみで、影響は軽微です。従って高精度で測定することができるのです。
軟X線厚さ計の一般的な特徴
- 放射線取扱主任者・X線作業主任者の選任・管理区域の設定が不要
（労働基準監督署への届出は必要です）
- パスライン誤差が無視できます
- 元素依存性が大きい
従来の軟X線厚さ計に対する弊社軟X線厚さ計の特徴
- 検出部、Ｘ線源部がコンパクト・軽量で狭いラインにも設置可能
- 計測対象範囲（材質・厚さ）が広い
用途
- 銅箔、アルミ箔、ステンレス箔
- 電池電極
- セラミックス（シート、ウェハ）
- ガラス繊維クロス
などの連続計測。
Ｘ線厚さ計 SX-1100
Ｘ線厚さ計 SX-1100の仕様
|
| 項目 |
仕様 |
| 名称 |
Ｘ線厚さ計SX-1100 |
| 測定方法 |
Ｘ線透過方式 |
| 検出方法 |
シンチレーション検出器方式 |
| 測定対象物 |
フィルム・箔など測定対象に合わせ最適設計 |
| 測定ピッチ |
標準 2mm（さらに細かいピッチも対応可能） |
| スキャン幅 |
標準150〜3000mm（他の幅も対応可能） |
| スキャン速度 |
15〜200mm/sec（標準） |
| フレーム構造 |
Ｏ型他各種フレーム |
| スポットサイズ |
約φ7.5mm（標準）（ワーク上） |
| Ｘ線源部 |
70×83mm×250mm（標準） |
| 検出部 |
70×83mm×220mm（標準） |
| 電源 |
100V 単相 1kVA |
